氧化鋁陶瓷經(jīng)過高溫煅燒相變制得氧化鋁陶瓷，而通常說的粒度值是指氧化鋁陶瓷體的顆粒大小,，氧化鋁陶瓷的原晶粒度與粒度是觀點(diǎn)天壤之別的兩個(gè)術(shù)語,。近年來，一些高等院校及研究單位均各自做一些研究,，以求其測定要領(lǐng),，誠然有相干報(bào)導(dǎo)，但都未公開技巧細(xì)節(jié),。那么氧化鋁陶瓷陶瓷的原晶粒度測定方法有哪些,？下面由深圳康柏新材料廠家為大家分享：

    1.電子顯微鏡法

    以化學(xué)腐化與掃描電鏡相結(jié)合測定晶粒度的方法，該法既直觀又堅(jiān)固,，是能反應(yīng)晶粒形貌,、尺寸的有效方法，但設(shè)備投資大,，剖析用度高,。

    2.X射線衍射法

    重要是譜線寬化法，該法可測定擬薄水鋁石的晶粒度,，但a氧化鋁陶瓷系列產(chǎn)品的衍射譜線是窄而銳利的,，實(shí)驗(yàn)表明并不存在;款化效應(yīng);甚至因?yàn)榈V化劑的影響，造成衍射峰的強(qiáng)度與JCPDS卡片不一致,，進(jìn)而影響到α氧化鋁定量剖析的正確性,。

    3.氮吸附小比名義法

    對(duì)多孔活性物質(zhì)較適合，但因?yàn)閺母邷叵芦@得的a氧化鋁陶瓷燒結(jié)體是致密的,，開氣孔跟閉氣孔均很少,，液氮分子難以進(jìn)入晶粒的縫隙，因此測定的范疇是有限的,，其測定晶粒度的誤差也較大,，該法的原理限度了其產(chǎn)業(yè)利用價(jià)值。

    4.紅外光譜結(jié)構(gòu)剖析法

    因?yàn)樽V線接收帶的大小與晶粒度的大小有關(guān),，可在紅外光譜儀的結(jié)構(gòu)中,，引入一種吸附帶面積積分儀，來算出均勻晶粒度,。該法剖析的用品用量很少,，對(duì)晶粒度散布范疇寬的樣品,，如何獲得有代表性的樣品，還是客觀存在艱苦,。

    5.研磨法

    早年美國鋁業(yè)公司的同行來中國時(shí)增提到過這種方法,，在特定的容積內(nèi)，以一定的料球比,、固定研磨時(shí)光,，再用粒度剖析儀測定破碎物料的晶粒散布及中位徑D50，并用這種方法來實(shí)現(xiàn)宏觀把持,。

    氧化鋁陶瓷也稱氧化鋁陶瓷陶瓷,，是由氫氧化鋁原料或產(chǎn)業(yè)氧化鋁經(jīng)高溫焙燒制得。它遍布應(yīng)用于耐火資料,、磨料,、陶瓷等諸多產(chǎn)業(yè)。